Rancang Bangun Pelacak Kurva Transistor Berbasis STM32 dan Labview

Leonardo Kamajaya, Ari Murtono, Achmad Arif Bryantono

Sari

Kurva karakteristik transistor memiliki informasi tentang hubungan antara tegangan collector-emitter dan arus collector terhadap arus basis, data ini dapat digunakan untuk menentukan spesifikasi penguatan transistor, area saturasi, dan area cutoff. Pengukuran kurva karakteristik transistor secara manual pada laboratorium membutuhkan waktu yang relatif lama dikarenakan dikarenakan analis harus mengatur beberapa instrumen secara bersamaan sehingga dibutuhkan sebuah instrumen khusus untuk melakukan pengukuran tersebut secara otomatis dengan parameter uji yang dapat diatur dan visualisasi kurva karakteristik hasil pengujian. Pada penelitian ini akan membahas tentang bagaimana cara membuat curve tracer yang terdiri dari SMU (Source Measure Unit) dengan mikrokontroler dengan arsitektur ARM agar dapat melakukan kontrol keluaran dan akuisi data dengan cepat. Antarmuka pada curve tracer yang dibuat menggunakan aplikasi komputer LabVIEW yang digunakan untuk mengatur batas-batas parameter uji serta menampilkan visualisasi kurva hasil pengujian curve tracer. Dari source measure unit yang telah dibuat, didapatkan hasil performa akurasi keluaran tegangan sebesar 0.01% dan keluaran arus sebesar 0.35%. Sedangkan akurasi kurva karakteristik transistor dari curve tracer yang dibandingkan dengan curve tracer menggunakan osiloskop didapatkan hasil sebesar 1.54%.

Teks Lengkap:

PDF

Referensi

E. Moreno-Garcia, “Curve tracer with a personal computer and LabView,” in 14th International Conference on Electronics, Communications and Computers, 2004. CONIELECOMP 2004., 2004, pp. 202–207.

G. T. Nikolov, “High current source-measure unit based on low cost DAQ,” Proc. Electron., 2008.

A. Seyhoonzadeh, H. Chang, and K. E. Lonngren, “Inexpensive transistor curve tracer,” Rev. Sci. Instrum., vol. 58, no. 5, pp. 849–852, 1987.

J. M. Patterson, “Developing an approach to semiconductor failure analysis and curve tracer interpretation,” in 16th International Reliability Physics Symposium, 1978, pp. 93–100.

E. J. Hill, “A Simple Transistor Characteristic Curve Tracer,” in Proceedings of the Iowa Academy of Science, 1962, vol. 69, no. 1, pp. 455–458.

A. Das, “An easy-to-fabricate source measure unit for real-time DC and time-varying characterization of multi-terminal semiconductor devices,” Eng. Res. Express, vol. 3, no. 1, p. 15003, 2021.

R. Ortega, “New source measure unit architecture for control loop configurability,” in 2012 IEEE AUTOTESTCON Proceedings, 2012, pp. 157–160.

P. Horowitz and W. Hill, “The Art of Electronics. Third.” Cambridge University Press, 2015.

M. J. Deen and F. Pascal, “Electrical characterization of semiconductor materials and devices,” J. Mater. Sci. Mater. Electron., vol. 17, no. 8, pp. 549–575, 2006.

T. Instruments, “High-voltage, high-current operational amplifier.” 2005.

T. Instruments, “Ina226 high-side or low-side measurement, bi-directional current and power monitor with i2c compatible interface,” INA226, pp. 1–39, 2015.


DOI: http://dx.doi.org/10.30651/cl.v6i1.14544

Refbacks

  • Saat ini tidak ada refbacks.